MARSURF XC 20 MIT PCV 200 輪廓測量站
輪廓測量的國際基準
MarSurf XC 20 被公認為輪廓評估的產(chǎn)品。開始于 30 年前的 Konturograph 產(chǎn)品 - 由驅動裝置和 X-/Y-記錄儀構成 #96 現(xiàn)已通過技術發(fā)展為優(yōu)質質量的輪廓測量系統(tǒng)。微調的設備配置可提供出色的性能標準。驅動裝置和測量立柱通過可靠的測量和評估軟件進行控制和定位。
可以顯示用戶提示
交互控制元素支持評估和自動例行程序
使用雙探針測頭測量上下輪廓；也可對兩個輪廓進行相對評估
剖面圖像，可評估各剖面的不同參數(shù)
可對孔或陡峭對象等障礙進行分段測量
支持導入和導出 dxf 文件以對比設定點/實際值
PCV 200 驅動裝置采用的測桿安裝方式，無需工具即可完成可重復性測桿更換
測頭系統(tǒng)，提高測量站靈活性
手動可變掃描力，同樣提高靈活性
使用直線和圓弧合成標稱輪廓
方便比較標稱和實際輪廓 可通過輪廓內的描述選擇不同的公差
MARSURF-XC20 表面粗糙度輪廓儀技術參數(shù)：
接觸速度（Z 方向） |
0.1 至 1 mm/s |
測桿長度 |
175 mm, 350 mm |
測量速度（文本） |
0.2 mm/s 至 4 mm/s |
針尖半徑 |
25 μm |
掃描長度末尾（X 方向） |
200 mm |
分辨率 |
Z 方向，相對探針針頭：0.38 μm（350 mm 測桿）/ 0.19 μm（175 mm 測桿）
在 Z 方向，相對于測量系統(tǒng)：0.04 μm |
掃描長度開始（X 方向） |
0.2 mm |
取樣角 |
在平滑表面上，取決于偏差：后緣高至 88°，前緣高至 77° |
定位速度（文本） |
X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s
Z 方向：0.2 至 10 mm/s |
導塊偏差 |
< 1 μm（200 mm 以上） |
測量范圍 mm |
（Z 方向）50 mm |
掃描長度（文本） |
0.2 mm 至 200 mm |
測量力 (N) |
1 mN 至 120 mN，以下和以上（可在 MarSurf XC 20 中設置） |
MARSURF-XC20 表面粗糙度輪廓儀應用：
機器建造：軸承、螺紋、螺紋柱、滾珠絲杠、軸、支架、閥門
生產(chǎn)領域最需要的測量：部分自動流程中的輪廓測量
汽車業(yè)：轉向、剎車系統(tǒng)、變速箱、曲軸、凸輪軸、氣缸蓋
醫(yī)療：髖關節(jié)和膝關節(jié)內用假體的輪廓測量，醫(yī)用螺絲的輪廓測量，種植牙的輪廓測量
MARSURF-XC20 表面粗糙度輪廓儀附件：
可選：
MarSurf ST 750 測量立柱
手動控制面板帶操縱桿和顯示器 MCP 21
平行虎鉗，V 形塊
設備工作臺
軟件選項：
螺紋評定選項
斜面選項
QS-STAT / QS-STAT Plus 選項
拓撲選項
MARSURF-XC20 表面粗糙度輪廓儀版本：
結合精密驅動和測頭系統(tǒng) LD 130 / 260
結合測量立柱 ST 500 或 ST 750
MARSURF-XC20 表面粗糙度輪廓儀貨運：
MarSurf XC 20 包含計算機、MidRange Standard 包括 XC 20 軟件和 Mahr 許可密鑰
TFT 顯示器
MarSurf PCV 200 驅動單元
MarSurf ST 500 測量立柱包含支架
校準套件
MCP 23 手動控制面板
CT 300 XY 工作臺 |
華東華南地區(qū)
