顯微鏡的檢測(cè)類型和應(yīng)用簡(jiǎn)介-光學(xué)儀器廠
原子力顯微鏡檢測(cè)的模式有三種:第工一種是接觸式〈contact mode〉第二種是非接觸式〈non-contact mode、第三種是敲觸式〈tapping mode〉
可以用來(lái)對(duì)各種薄膜表面形態(tài)粗糙度以及量子點(diǎn)大小等進(jìn)行分析也可以非常精確的分析納米原件的表面結(jié)構(gòu),
此外還可以用來(lái)補(bǔ)觀察生物細(xì)胞,病毒啊,微生物,DNA的光學(xué)顯微鏡觀察不到結(jié)構(gòu)
,更加厲害的是可以呈現(xiàn)胺基酸分子中的碳、氫原子結(jié)構(gòu)
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