光學(xué)顯微鏡以測(cè)定涂層厚度或涂層,原紙界面粗糙度 物理橫截面法 物理橫截面法(physical cross sectioning)提供紙張涂層內(nèi)部結(jié)構(gòu)方面可獲得的若干最佳信息。但其勞動(dòng)強(qiáng)度可能較高。一般是在紙?jiān)嚇又蟹湃擞捕袧B透性的介質(zhì),諸如環(huán)氧膠或丙烯酸,以盡量減少在切薄片或研磨時(shí)的試樣變形。放人的介質(zhì)應(yīng)根據(jù)試樣類(lèi)型選擇。諸如紙板那樣具有多層高涂布量的厚試樣,要求使用低黏度慢固化的環(huán)氧膠。對(duì)其組分可擴(kuò)散進(jìn)介質(zhì)的試樣,要求用快速固化的介質(zhì),諸如丙烯酸。 另外,使用凝固切斷技術(shù)有可能獲得相對(duì)高質(zhì)量的橫截面。具體做法是用液氮凝固試樣,然后用刀刃切開(kāi)。這種橫截面一般適合于電子顯微技術(shù)。但這種橫截面的未拋光粗糙度可能過(guò)大,超過(guò)了多數(shù)光學(xué)顯微鏡領(lǐng)域的規(guī)定深度范圍。 如果使用電子掃描顯微技術(shù)顯示試樣圖像,常使用固體塊。輻射電子顯微鏡要求使用薄截面。光學(xué)顯微鏡可用薄截面或固體塊。但如果使用光學(xué)熒光成像,必須用薄截面以避免來(lái)自試樣主體內(nèi)部的熒光。光學(xué)顯微鏡具有足夠的分辨率以測(cè)定涂層厚度或涂層頂部(或涂層/原紙界面)的粗糙度。光學(xué)熒光成像技術(shù)可用以測(cè)量熒光滲透液的滲透性,染色法可用以測(cè)量諸如淀粉的分布狀況。電子顯微技術(shù)給予較高的分辨率,所以多層涂布有時(shí)也可用顏料粒子規(guī)格的不同進(jìn)行分辨。例如,也可實(shí)行元素測(cè)位法(elemental mapping)以確定鋨示蹤膠乳的位置所在。
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