熔融物樣品分析高溫顯微鏡,顯微熔點(diǎn)儀廠商另一個(gè)重要的技術(shù)是用高溫顯微鏡,直接在顯微鏡的熱臺上觀察熔融物,這可以補(bǔ)充驟冷法,甚至在許多場合下可以代替它。最方便的的儀器是在熱電偶上的V處(即熱電偶的兩根線的接點(diǎn)處——譯者)裝一滴熔化物,借助于適當(dāng)?shù)碾姎庠O(shè)備,這個(gè)熱電偶既可用以加熱樣品又可用來測量溫度。這個(gè)方法比驟冷法快速而且直接,對于研究所生成的相或化合物不能用驟冷法保存到室溫狀態(tài)的體系特別有效??梢杂^察到多晶轉(zhuǎn)變引起的光性變化,長成的單晶還可作x一射線結(jié)構(gòu)分析。用這種方法適當(dāng)選擇熱電偶可測得2150℃以下的熔點(diǎn)和其他現(xiàn)象。用純銥加熱體代替熱電偶可測到2450℃,溫度用熔錐測量。也曾提出用同樣的熱電偶加熱器進(jìn)行高溫x一射線照相。CaO—SiO2混合物在2000℃以上作為初晶相生成的硅酸三鈣和硅酸二鈣的高溫顯微照相示于圖片I中。利用這些直接方法積累了大量的相平衡數(shù)據(jù)?,F(xiàn)在所用的各種方法將使復(fù)雜的相平筏解決得更快和更準(zhǔn)確。還有許多更復(fù)雜的三元系統(tǒng)圖,但應(yīng)用同樣的一般原理可指出它們的特性并可導(dǎo)出任一混合物的結(jié)晶路程。在上述例子中曾經(jīng)應(yīng)用過的控制結(jié)晶路程的一般原則可簡要地總結(jié)如下: 1.當(dāng)只有一個(gè)固相存在時(shí),結(jié)晶路程落在第工一相區(qū)內(nèi),即為從所析出的固相組成點(diǎn)引出,通過原始混合物組成點(diǎn)的直線的延線。這必須是溫度降低的方向。 2.當(dāng)有兩個(gè)固相存在時(shí),結(jié)晶路程沿著兩個(gè)固體的第工一相區(qū)的界線向著溫度降低的方向移動。從界線上~點(diǎn)引一直線通過原始混合物的組成點(diǎn)并與兩固體的組成點(diǎn)的聯(lián)線相交,即可求得該點(diǎn)所析出的全部固體的平均組成。對界線上任一點(diǎn)引一切線與相同的組成線或其廷線相交,就能求得真正是這一點(diǎn)所析出的固體的組成。若在組成線的延線上相交,則一個(gè)固體重新溶解而另一固體析出。當(dāng)一個(gè)固體全部重新溶解,則結(jié)晶路程離開界線而跨入相鄰的第工一相區(qū)。 3.當(dāng)三個(gè)固相共存時(shí),液相組成必落在一個(gè)不變點(diǎn)或低共熔點(diǎn)。在低共熔點(diǎn)的情況下,混合物將在此點(diǎn)凝固。在不變點(diǎn)情況下,若原始混合物的組成位于與不變點(diǎn)共存的三個(gè)固體的組成點(diǎn)所圍成的三角形內(nèi),則混合物將在此點(diǎn)凝固。否則一個(gè)固體將重新溶解而全部消失,之后結(jié)晶路程沿界線移至另一不變點(diǎn)或低共熔點(diǎn)。 在追蹤這種結(jié)晶路程時(shí),假定了固液相間是始終保持平衡的。固體混合物的加熱過程,假若也假定是平衡的,則將完全是冷卻結(jié)晶的逆過程。
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