顯微鏡測量粒度,粒度小到0.1微米仍可以進行測量 當(dāng)預(yù)測的粒度小于光學(xué)顯微鏡的分辨能力極限時,可以采用電子顯微鏡進行測量,粉末試樣沉積在碳膜或塑料膜上,借掃描進行測量同樣也是可能的,粉末冶金使用的金屬粉末的粒度很少如此之細,需要用電子顯微鏡才能測量。即使顯微鏡測量已經(jīng)不再是測量粒度的常規(guī)的方法, 但是對于校正其他方法,特別是基于沉降分析的方法來說,顯微鏡測量仍有價值。 以斯達克斯定律為基礎(chǔ)的方法在許多可以用來測量粒度和粒度分布的淘析的沉降法中,一般只有少數(shù)幾個方法對于金屬粉末是可以使用的,在提出這些方法之前,為了得到可靠的結(jié)果,應(yīng)當(dāng)先說明某些必須說明的條件:必須避免懸浮介質(zhì)的對流;流體和粉末顆粒的相對運動速度必須足夠低,以便保證是層流,這意味著,由給出的雷諾數(shù)應(yīng)當(dāng)小于0.2式中,是顆粒大小,是沉降速度,是流體密度,是液體的粘度,這就是以用斯達克斯定律方法測量的粒度,限制在亞篩范圍內(nèi),另一方面,同流體的不均勻性進行比較,粉末顆粒大小限制在大小5 μm 范圍內(nèi),而在液體中進行沉降分析時,粒度小到0.1 μm 仍可以進行測量。 懸浮液中的粉末顆粒必須是完全分散的,而且,懸浮液必須解釋到足以保證獨立運動,這意味著,懸浮介質(zhì)中粉末顆粒的體積最大濃度大約為1%,最后,必須避免容積壁的影響,這意味著,淘析或沉降分析容器的內(nèi)徑要足夠大。
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