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粒度測量顯微鏡-測量的是顆粒的表觀粒度投影尺寸粒度測量 顯微鏡法測量的是顆粒的表觀粒度，即顆粒的投影尺寸。對稱性好的球狀顆粒(如噴霧粉)或立方體顆?？芍苯影撮L度計(jì)量，但對于非球狀的不規(guī)則顆粒，如緒論中談到的，這種直接計(jì)量是不可能的，顆粒的“尺寸”必須考慮到顆粒形狀，有不同的表示方法。由顯微刻度尺的垂線與顆粒投影輪廓線相切的兩條平行線間距離來表示；Mat-tin直徑在粒度分析中是常用的，由它把任意方位的顆粒劃分成兩個(gè)投影面積大致相等的部分；最大水平截距是指刻度尺水平方向上，從顆粒一端到另一端間的最大距離；投影面積直徑則是指顆粒投影面積相當(dāng)?shù)膱A的直徑。在一些國家，使用投影面積直徑作為制訂顯微鏡法粒度分析的基準(zhǔn)在實(shí)際上，粒度測量應(yīng)用垂直投影法比較簡單。就是說，所測顆粒在視場內(nèi)向一個(gè)方向移動，順序地?zé)o選擇性地逐個(gè)進(jìn)行長度測量，經(jīng)過長徑測長徑，經(jīng)過短徑測短徑，不轉(zhuǎn)動目鏡上顯微刻度尺。比垂直投影法更簡單的是線性切割法，即測量落在顯微刻度尺上所有顆粒的被截取部分長度， 由于顆粒在玻璃片上分布是無定向的，因此只要測量的顆粒數(shù)足夠多，測量結(jié)果能反映一定的真實(shí)性。粒度分布測量的顆粒數(shù)量多少，視測量結(jié)果達(dá)到穩(wěn)定為原則，通常與顆粒形狀、大小和分布范圍有關(guān)，也與采用的測量方法有關(guān)。如對形狀較規(guī)則的顆粒，測量100個(gè)顆粒也就可以了；而對不規(guī)則形狀的顆?；虺叽绶植挤秶容^寬的顆粒，則需要測量的顆粒數(shù)量就應(yīng)該多些，一般約需200--,2000個(gè)。不同的平均粒度值，在與其它粒度測量方法得到的平均粒度值進(jìn)行比較時(shí)是有用的。 ‘ 遇到混合顆粒的粒度分析，其它粒度測量方法幾乎是無能為力的，顯微鏡法是唯工一可供測量的方法。由于混合顆粒中每種組分的粒度組成與其平均粒度、顆粒形狀和該組分的密度有關(guān)，因此比起同種組分的顆粒情況，計(jì)算時(shí)應(yīng)稍加小心，否則容易出差錯(cuò)。
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