偏光顯微鏡用途較大,特別適于測微小透明礦物折射率包體研究中的顯微鏡 偏光顯微鏡 這是包體研究中必不可少的基本設備之一。在研究包體形成機理時和利用包體進行測溫、測壓、測成分時,以及利用包體普查勘探礦床和盲礦體時均需用它,一般可用地質(zhì)人員常用的透射偏光顯微鏡,但最好使用既適于透射光又適于反射光的兩用偏光顯微鏡。我國光學工業(yè)正生產(chǎn)各種不同精密光學儀器,透射反射兩用偏光顯微鏡也已正式生產(chǎn),為我們的研究工作提供了較良好條件。下面介紹幾種國內(nèi)外常用透射反射兩用偏光顯微鏡用某些其它顯微鏡。 干涉顯微鏡和相差顯微鏡 近年相差和干涉顯微術(shù)有進展,尤其干涉顯微鏡很發(fā)達。 這兩類顯微鏡原理不同,但用于同樣目的。兩者均能提高研究物體與其背景之間的襯度,且設備不復雜,操作簡便。已廣泛應用各科研究領(lǐng)域。地質(zhì)上便于研究細小透明無色或淺色礦物,尤其適于測細小透明礦物折射率,也便于研究包體、晶體缺陷及固溶體分離。雖有專門成套產(chǎn)品,但一般偏光顯微鏡只要增加相應特制物鏡和聚光鏡等少許專用附件,即可變?yōu)橄鄳南嗖铒@微鏡和干涉顯微鏡。 這些裝置用途較大,但特別適于測微小透明礦物折射率,在偏光中測程差的精度為0.01,當薄片厚0.01-0.03mm時,測定折射率和精度可達小數(shù)后第4位,且操作較迅速。又如,地開石細小晶體在香柏木油和丁香混合液中,當明亮域法時幾乎見不到;但地相差、諾馬斯基微分干涉送菜主賈明一列別杰夫干涉裝置下則非常清楚,這些特點將有助于包體研究。
|