偏反光顯微鏡研究細節(jié)的顯微結構特征,相襯技術簡介 使用偏反光顯微鏡研究顯微結構時,亦不能忽視干涉顯微術的作用。例如,以微差干涉理論為基礎所設計的相襯顯微鏡,即可觀察到材料表面高度的最小階梯為23,若使用諾馬斯基((C·Nomarsky)偏光干涉器,則可得到全象分離的效果,其測量范圍可達0.01一1μm.特別應當提到.Interphac。干涉顯微鏡可使用連續(xù)變象分離的剪象法,不僅功能全,精密度高,而且轉換調(diào)節(jié)方便,是用光學方法研究顯微結構特征的有力工具。許多在偏反光顯微鏡卜難以區(qū)別的物相,以及某些屬于細節(jié)的顯微結構特征.都能得到很好的區(qū)別和發(fā)現(xiàn)
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