IR顯微光譜學(xué)應(yīng)用于纖維、涂料的辨別
顯微鏡IR顯微光譜學(xué) IR microscopy
對于物理尺寸在10至500 mm范圍的樣品,可以使用IR顯微光譜法來觀測樣品中物種之吸收光譜或者反射光譜
IR顯微鏡首先在1980年代,由幾家儀器制造商所推出的
IR顯微鏡通常是由兩具顯微鏡所構(gòu)成的,其中一具是一般的光學(xué)顯微鏡,
另一具則是具有反射光學(xué)部分的IR裝置,而能夠?qū)R光束的大小減少到與樣品的尺寸相近。
光學(xué)顯微鏡通常被使用來觀察,預(yù)備以IR光束研究之樣品顆?;蛘邩悠钒唿c(diǎn)的位置。
IR光源通常是一具傅立葉轉(zhuǎn)換光譜儀,而不是光柵型儀器。
偵檢器通常是比其他IR偵檢器類型更為靈敏的液態(tài)氮冷卻式碲化汞–碲化鎘光導(dǎo)電裝置。
在目前,它的一些用途包括有,針對聚合物污染、聚合物薄膜之缺失、
與薄層式聚合物薄板之個(gè)別層面等各項(xiàng),進(jìn)行辨識工作;針對纖維、涂料、
進(jìn)行辨識工作;對電子組件之污染物進(jìn)行辨識工作等等
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