量測設備包括卡尺、投影儀、工具顯微鏡等等
檢驗時,若發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品有任何淬火裂痕或在頭底承面表面上或下方有內(nèi)凹處褶痕時,則可據(jù)此
將本批退貨拒收。若發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品有其他的表面缺陷,則必需依據(jù)第 3、4 段之允許限度使用適
當之量測設備(包括卡尺、投影儀、工具顯微鏡等等)量測之,若超出界限則可據(jù)此將本批退
貨拒收。
破壞性檢驗:
如果實施非破壞性檢驗,發(fā)現(xiàn)有任何缺點,則應再自缺點樣品中依下表之規(guī)定
進行取樣(一般取缺點樣品中最嚴重之樣品)來進行檢驗以便找出表面缺陷之最大深度。
縫和摺疊(Lab)的檢查:
如果樣品已接受過目視檢查,需進一步使用酸來浸蝕以檢查螺紋的摺疊和縫
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