掃瞄電子顯微鏡材料表面觀察分析技術(shù)簡介
掃瞄探針顯微鏡分析技術(shù)可說是近幾年來發(fā)展極為快速的一項(xiàng)表面分析技術(shù),
除了有操作簡單與維護(hù)容易的特點(diǎn)外,最主要的優(yōu)點(diǎn)
在于能直接且快速地提供關(guān)于材料表面特性的資訊,如硬度、平坦
度、電磁場、漏電流、光電性質(zhì)及壓電特性等高解析度訊號。隨著奈
米科技時(shí)代的來臨,許多表面分析需求已進(jìn)入奈米尺度,掃瞄探針顯
微鏡自然成為奈米科技時(shí)代不可或缺的表面分析工具之一,其各項(xiàng)應(yīng)
用之中,以應(yīng)用于材料表面形貌觀察及物性量測的原子力顯微鏡最為人所知。
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